铋(Bi)在电子产品中的作用:焊料填充起翘案例研究

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图1:焊料填充起翘现象

总体而言,主要观察结果如下:

· 波峰焊后,焊料填充起翘与通孔焊点有关;

· 没有检测到与SMT元器件相关的焊点分离(开裂);

· 焊点开裂通常从通孔焊点的远端开始(图2)。

图2:焊点开裂通常从通孔焊点的远端开始

以下要点概述了与各种无铅成分有关的主要发现。焊料填充起翘的研究总结如下:

· 采用Sn3.4Ag>4.8Bi合金时,90%以上的通孔焊点会发生焊料填充起翘;

· 采用SnAg>7.5Bi合金时,90%以上的通孔焊点会发生焊料填充起翘;

· 采用SnPb涂层元器件时,使用各种无铅合金(在不含Bi的情况下)的通孔焊点会出现严重的焊料填充起翘;

· 采用Sn3.5Ag0.5Cu1Zn合金时,一些通孔焊点会发生焊料填充起翘;

· 采用Sn2.6Ag0.8Cu0.5Sb合金时,一些通孔焊点会发生焊料填充起翘;

· 采用96.5Sn3.5Ag合金时,30%的通孔焊点会发生焊料填充起翘;

· 采用58Bi42Sn合金时,0%的通孔焊点会发生焊料填充起翘;

· 采用63Sn37Pb合金时,0%的通孔焊点会发生焊料填充起翘;

· 采用任何合金,表面贴装焊点开裂均为0%。

因素和原因

根据观察,焊料填充开裂似乎是从孔壁焊盘的远端开始的,此外发现开裂仅发生于通孔焊点,焊料填充起翘归因于组件冷却和焊料固化过程中产生的过大应力。造成这种过度应力的因素可能来自以下几个方面:

· 冷却速度

· 最大温度梯度(焊料槽温度)

· PCB结构(焊盘设计、板厚度)

· 焊料合金成分(熔融温度、合金糊状区、冶金相)

· 焊料合金(应力和应变行为)

· 润湿能力(固有合金润湿能力)

· PCB焊盘的润湿性

在大多数实际情况下,焊料填充起翘极有可能是由上述一种以上因素造成的。

在冶金方面,该现象也被认为是凝固过程中偏析和、或低熔融Sn-Bi共晶相形成的结果(如适用)。如果或当形成低熔融SnBi共晶或其他低熔融相时,低熔融相可能是罪魁祸首。尽管如此,当Bi刚刚出现时,并不一定能形成低温Sn-Bi相。

焊料填充起翘可能会也可能不会导致电路板故障或产品故障。然而,即使没有机械或电气故障,也应该检查和修复焊料填充起翘现象。

补救措施和预防

为了缓解组装操作中的问题(当给定PCB设计且不易更改时),需要考虑以下方面:

工艺方面:

· 降低冷却速度

· 如果可行,避免使用高焊接温度

材料方面:

· 适当选择合金成分(例如,具有足够的塑性应变)

· 选择合金糊状区窄(小于10度)的合金成分

· 选择具有良好内在冶金润湿性的合金成分

· 确保PCB焊盘具备充分的湿润状况

· 确保有兼容的助焊剂

收获的经验

在初期(即设计阶段)应避免出现可能危及另一个性能参数的某一性能特性。这听起来似乎是在陈述显而易见的事实,但事实是,由于缺乏对工艺、材料以及工艺与材料之间兼容性的全面了解而导致的事故多发。

铋是一种特有的元素,可以为电子产品提供有益的重要用途,但必须适当科学地使用。

锡基无铅体系中,Sn、Ag、Cu、Bi4种元素相互作用和潜在的冶金相互作用非常复杂。对于Sn基无铅合金体系,从可靠性的角度来看,通过添加或去除元素,以及仅仅减少或增加元素的剂量来达成某一特性或性能参数,这并不是稳健的方法。

对于可靠性,制造工艺、材料和兼容性,三者紧密交织在一起;电子系统的设置、选择和设计必须将工艺、材料和兼容性视为相互依赖的三要素。

注意事项(意识)

本文讨论的是含铋元素的锡基体系。在实践中,“基体”实际上被定义为构成合金体积50%或以上的元素(即用作冶金基体)。应区分含铋锡基合金和铋基合金。当为微电子、电子封装和组件设计、选择和使用无铅焊料合金时,这种区别非常重要。

· 含铋锡基合金

例如:93Sn3.0Ag1.0Cu3.0Bi

例如:93Sn3.0Ag1.0Cu1.0Bi2.0XYZ

· 铋基合金

例如57Bi41Sn2Ag

例如57Bi41Sn1.5Ag0.5XYZ(掺杂剂)

后续专栏文章将讨论铋的属性、性能以及对电子产品可靠性的影响。

阅读原文查看,文章发表于《PCB007中国线上杂志》23年8月号,更多精彩原创内容,欢迎关注“PCB007中文线上杂志”公众号。

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